פריקה אלקטרו-סטטית (ESD)

פריקה אלקטרוסטטית (פא"ס, ESD)

מהווה דאגה משמעותית בקרב יצרני האלקטרוניקה, שכן היא עלולה לגרום לכשל רכיבים ומערכות אלקטרוניות רגישות.

פריקה אלקטרו-סטטית אל רכיב/מערכת אלקטרונית עלולה לגרום לשני סוגי כשלים:

כשל למערכת - נזק הנגרם לרכיב/מערכת ובהפעלתה ניתן לגלות את הכשל ולטפל בו.

כשל חבוי (Latent Failure)– נזק הנגרם לרכיב/מערכת ואינו ניתן לזיהוי בבדיקת המערכת. כשל זה עלול לקצר את מחזור החיים של המוצר ו/או לפגוע בביצועיו. הכשל מתגלה בדרך כלל בשלב מאוחר יחסית וגורר הפסדים גדולים לחברה כתוצאה מ-Recalls, פיצויים ולעיתים תכנון מחדש. על מנת להקטין את הסיכון בהיבט ESD התעשייה משקיעה מאמצים רבים הן בתכנון מוצרים המוגנים מ-ESD והן בסביבות ייצור בטוחות מ-ESD.

אנו ב-EMC UNIT  בעלי מומחיות וניסיון בתחום, מכירים ומשתמשים בכלים המתקדמים להמלצות תכן של מערכות וכן המלצות על שיטות עבודה במפעלי ייצור ומעבדות.